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IEEE Design & Test is an academic journal published by IEEE. (ISSN 2168-2356, impact factor 1.9).

Aims & Scope IEEE Design & Test offers original works describing the models, methods and tools used to design and test microelectronic systems from devices and circuits to complete systems-on-chip and embedded software. The magazine focuses on current and near-future practice, and includes tutorials, how-to articles, and real-world case studies. The magazine seeks to bring to its readers not only important technology advances but also technology leaders, their perspectives through its columns, interviews and roundtable discussions. Topics include semiconductor IC design, semiconductor intellectual property blocks, design, verification and test technology, design for manufacturing and yield, embedded software and systems, low-power and energy efficient design, electronic design automation tools, practical technology, and standards.

Última actualización por Dou Sun el 2026-01-10

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IEEE Transactions on Power Systems	7.2	IEEE	0885-8950
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		42,1	DTS	IEEE international conference on Design & Test of integrated micro & nano-Systems	2019-02-04	2019-04-28
		42,8	IEEE S&B	IEEE Security & Privacy on the Blockchain Workshop	2021-05-21	2021-09-07
		52,6	VDAT	International Symposium on VLSI Design and Test	2026-04-30	2026-08-20
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B	A	92,8	DATE	Design, Automation and Test in Europe	2026-09-07	2027-03-22
	C	51,7	AST	ACM/IEEE International Conference on Automation of Software Test	2026-10-30	2027-04-26
C	B	58,1	IEEE CLOUD	IEEE International Conference on Cloud Computing	2023-03-25	2023-07-02
B	A	89,1	ITC	International Test Conference	2026-03-20	2026-10-11
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