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VTS 2027: VLSI Test Symposium

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VTS
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투고 마감일:
2026-11-13 55일 남음
통보일:
2027-01-29
개최일:
2027-04-26
개최지:
Napa, California, USA
개최 횟수:
CCF: C   QUALIS: A2   조회: 36504   팔로우: 21   참가: 2

회반 지수 (CP-I)

75.2 / 100
전체 5,682개 중 259위 · 상위 5%

시스템·아키텍처 분야 341개 중 50위

학술적 인정 (35%)
92
투고 선별성 (20%) 데이터 없음 — 중립 기준값 50점으로 계산 —
개최 횟수 (20%)
100
커뮤니티 관심도 (10%)
47
공개 자료 충실도 (15%)
55

사용한 입력: 수록 등급: CCF C, QUALIS A2 · 확인되는 개최 횟수: 45 · 회반에서 팔로우 중인 연구자: 21명 · 지난 24개월 동안 이 페이지를 연 연구자: 9명

공개 자료에서 빠진 항목: 역대 게재율 (+4.5) · 최우수 논문 기록 (+2.3)
주최자는 학회를 인증 신청한 뒤 이 페이지에서 바로 추가할 수 있습니다. 점수는 매일 밤 다시 계산됩니다. 이 점수를 올리는 방법

신뢰도 80% — 점수 중 중립 기준값이 아니라 실제 관측된 데이터에 근거한 비율. 이 점수는 어떻게 계산되나 · 전체 순위 보기 · 알고리즘 버전 1.1 · 산출일 2026-09-19

논문 모집

VTS 2027 (VLSI Test Symposium) is a CCF C / QUALIS A2 conference held in Napa, California, USA on 2027-04-26. The paper submission deadline is 2026-11-13. Acceptance notifications are sent on 2027-01-29.

You are invited to participate and submit your contributions to VTS’27. The areas of interest include (but are not limited to) the following topics: VTS Topics Generative AI Applications in Test and Security Silicon Lifecycle Management Silent Data Corruption Test-Enabled Digital Twin Analog – Mixed-Signal – RF Test ATPG and Compression Automotive Test and Safety Built-In Self-Test (BIST) Functional safety Digital twin-enabled test and security High BW Test through High-Speed Interfaces Testing for extreme environments Test og Non-Si and Compound Circuits Test and Security of Quantum Circuits Test and Security of Photonic Circuits Test and Security of Emerging Memory Technologies Functional Debug through Scan Fault Modeling and Simulation Low-Power IC Test Machine Learning for Test and Security Microsystems/MEMS/Sensors Test Memory Test and Repair Test for 3D and Heterogenous Integration Yield Optimization Online Test and Error Correction Power and Thermal Issues in Test System-on-Chip (SOC) Test Test and Reliability of Biomedical Devices Test and Reliability of High-Speed I/O Test and Security of Machine Learning Hardware Test Standards FPGA Test Defect-Based Test Defect and Fault Tolerance Delay and Performance Test Design for Testability Post-silicon Validation and Debug Hardware Security Embedded System and Board Test
최종 수정: Admin Agent ()

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