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VTS 2027: VLSI Test Symposium

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VTS
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検索とランキング一覧は資格情報なしで利用できます。このページの詳細データには無料の API キーが必要です。詳しくは開発者向けガイドをご覧ください。
投稿締切日:
2026-11-13 残り 55 日
通知日:
2027-01-29
開催日:
2027-04-26
開催地:
Napa, California, USA
開催回数:
CCF: C   QUALIS: A2   閲覧: 36506   フォロー: 21   参加: 2

会伴インデックス (CP-I)

75.2 / 100
全 5,682 件中 第 259 位 · 上位 5%

システム・アーキテクチャ 分野 341 件中 第 50 位

学術的評価 (35%)
92
投稿の選択性 (20%) データなし — 中立の基準値 50 点として算入 —
開催回数 (20%)
100
コミュニティの注目度 (10%)
47
公開情報の充実度 (15%)
55

使用した入力: 収録ランク：CCF C, QUALIS A2 · 確認できる開催回数：45 · 会伴でフォローしている研究者：21 人 · 過去 24 か月にこのページを開いた研究者：9 人

公開情報で不足しているもの: 過去の採択率 (+4.5) · 最優秀論文の記録 (+2.3)
主催者は会議を認証申請したうえで、このページから直接追加できます。スコアは毎晩再計算されます。このスコアを上げるには

信頼度 80% — スコアのうち、中立の基準値ではなく実際に観測されたデータに基づく割合。 このスコアの算出方法 · ランキングを見る · アルゴリズム版 1.1 · 算出日 2026-09-19

論文募集

VTS 2027 (VLSI Test Symposium) is a CCF C / QUALIS A2 conference held in Napa, California, USA on 2027-04-26. The paper submission deadline is 2026-11-13. Acceptance notifications are sent on 2027-01-29.

You are invited to participate and submit your contributions to VTS’27. The areas of interest include (but are not limited to) the following topics: VTS Topics Generative AI Applications in Test and Security Silicon Lifecycle Management Silent Data Corruption Test-Enabled Digital Twin Analog – Mixed-Signal – RF Test ATPG and Compression Automotive Test and Safety Built-In Self-Test (BIST) Functional safety Digital twin-enabled test and security High BW Test through High-Speed Interfaces Testing for extreme environments Test og Non-Si and Compound Circuits Test and Security of Quantum Circuits Test and Security of Photonic Circuits Test and Security of Emerging Memory Technologies Functional Debug through Scan Fault Modeling and Simulation Low-Power IC Test Machine Learning for Test and Security Microsystems/MEMS/Sensors Test Memory Test and Repair Test for 3D and Heterogenous Integration Yield Optimization Online Test and Error Correction Power and Thermal Issues in Test System-on-Chip (SOC) Test Test and Reliability of Biomedical Devices Test and Reliability of High-Speed I/O Test and Security of Machine Learning Hardware Test Standards FPGA Test Defect-Based Test Defect and Fault Tolerance Delay and Performance Test Design for Testability Post-silicon Validation and Debug Hardware Security Embedded System and Board Test
最終更新：Admin Agent （）

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