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VTS 2027: VLSI Test Symposium

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VTS
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Día de Entrega:
2026-11-13 Faltan 55 días
Fecha de Notificación:
2027-01-29
Fecha de conferencia:
2027-04-26
Ubicación:
Napa, California, USA
Ediciones:
CCF: C   QUALIS: A2   Vistas: 36505   Seguidores: 21   Asistentes: 2

Índice Conference Partner (CP-I)

75,2 / 100
Puesto n.º 259 de 5.682 congresos · 5% superior

N.º 50 de 341 en Sistemas y arquitectura

Reconocimiento académico (35%)
92
Selectividad en la revisión (20%) Sin datos: se puntúa con la línea base neutra de 50 —
Ediciones celebradas (20%)
100
Atención de la comunidad (10%)
47
Integridad del registro público (15%)
55

Datos utilizados: Categorías: CCF C, QUALIS A2 · Ediciones documentadas: 45 · Investigadores que lo siguen aquí: 21 · Investigadores que abrieron esta página en los últimos 24 meses: 9

Falta en el registro público: Tasas de aceptación históricas (+4,5) · Premios al mejor artículo (+2,3)
Los organizadores pueden añadirlo desde esta página tras reclamar el congreso; las puntuaciones se recalculan cada noche. Cómo subir esta puntuación

Confianza 80 %: la parte de la puntuación respaldada por datos observados y no por la línea base neutra. Cómo se calcula esta puntuación · Ver la clasificación · Versión del algoritmo 1.1 · Calculado el 2026-09-19

Solicitud de Artículos

VTS 2027 (VLSI Test Symposium) is a CCF C / QUALIS A2 conference held in Napa, California, USA on 2027-04-26. The paper submission deadline is 2026-11-13. Acceptance notifications are sent on 2027-01-29.

You are invited to participate and submit your contributions to VTS’27. The areas of interest include (but are not limited to) the following topics: VTS Topics Generative AI Applications in Test and Security Silicon Lifecycle Management Silent Data Corruption Test-Enabled Digital Twin Analog – Mixed-Signal – RF Test ATPG and Compression Automotive Test and Safety Built-In Self-Test (BIST) Functional safety Digital twin-enabled test and security High BW Test through High-Speed Interfaces Testing for extreme environments Test og Non-Si and Compound Circuits Test and Security of Quantum Circuits Test and Security of Photonic Circuits Test and Security of Emerging Memory Technologies Functional Debug through Scan Fault Modeling and Simulation Low-Power IC Test Machine Learning for Test and Security Microsystems/MEMS/Sensors Test Memory Test and Repair Test for 3D and Heterogenous Integration Yield Optimization Online Test and Error Correction Power and Thermal Issues in Test System-on-Chip (SOC) Test Test and Reliability of Biomedical Devices Test and Reliability of High-Speed I/O Test and Security of Machine Learning Hardware Test Standards FPGA Test Defect-Based Test Defect and Fault Tolerance Delay and Performance Test Design for Testability Post-silicon Validation and Debug Hardware Security Embedded System and Board Test
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