Información de la conferencia

VTS 2027: VLSI Test Symposium

Por favor Iniciar sesión para ver el sitio web de la conferencia
Cuenta gratuita: consulta los sitios oficiales, sigue las fechas límite y recibe recordatorios por correo.
Registrarse Iniciar sesión
Día de Entrega:
2026-11-13 Faltan 10 días
Fecha de Notificación:
2027-01-29
Fecha de conferencia:
2027-04-26
Ubicación:
Napa, California, USA
Ediciones:
Añadir al calendario: Google Calendar · Outlook / Apple (.ics)
CCF: C   QUALIS: A2   Vistas: 37450   Seguidores: 21   Asistentes: 2
¿Algo está mal en esta página? Avísanos
Insertar insignia de cuenta atrás
VTS
Obtener estos datos por API
Las búsquedas y las listas de rankings no necesitan credenciales; el detalle completo de esta página requiere una clave de API gratuita. Consulta la guía para desarrolladores.

Índice Conference Partner (CP-I)

75,4 / 100
Puesto n.º 261 de 5.764 congresos · 5% superior

N.º 49 de 342 en Sistemas y arquitectura

Reconocimiento académico (35%)
92
Selectividad en la revisión (20%) Sin datos: se puntúa con la línea base neutra de 50 —
Ediciones celebradas (20%)
100
Atención de la comunidad (10%)
49
Integridad del registro público (15%)
55

Datos utilizados: Categorías: CCF C, QUALIS A2 · Ediciones documentadas: 45 · Investigadores que lo siguen aquí: 21 · Investigadores que abrieron esta página en los últimos 24 meses: 12

Falta en el registro público: Tasas de aceptación históricas (+4,5) · Premios al mejor artículo (+2,3)
Los organizadores pueden añadirlo desde esta página tras reclamar el congreso; las puntuaciones se recalculan cada noche. Cómo subir esta puntuación

Confianza 80 %: la parte de la puntuación respaldada por datos observados y no por la línea base neutra. Cómo se calcula esta puntuación · Ver la clasificación · Versión del algoritmo 1.2 · Calculado el 2026-11-03

Solicitud de Artículos

VTS 2027 (VLSI Test Symposium) is a CCF C / QUALIS A2 conference held in Napa, California, USA on 2027-04-26. The paper submission deadline is 2026-11-13. Acceptance notifications are sent on 2027-01-29.

You are invited to participate and submit your contributions to VTS’27. The areas of interest include (but are not limited to) the following topics: VTS Topics Generative AI Applications in Test and Security Silicon Lifecycle Management Silent Data Corruption Test-Enabled Digital Twin Analog – Mixed-Signal – RF Test ATPG and Compression Automotive Test and Safety Built-In Self-Test (BIST) Functional safety Digital twin-enabled test and security High BW Test through High-Speed Interfaces Testing for extreme environments Test og Non-Si and Compound Circuits Test and Security of Quantum Circuits Test and Security of Photonic Circuits Test and Security of Emerging Memory Technologies Functional Debug through Scan Fault Modeling and Simulation Low-Power IC Test Machine Learning for Test and Security Microsystems/MEMS/Sensors Test Memory Test and Repair Test for 3D and Heterogenous Integration Yield Optimization Online Test and Error Correction Power and Thermal Issues in Test System-on-Chip (SOC) Test Test and Reliability of Biomedical Devices Test and Reliability of High-Speed I/O Test and Security of Machine Learning Hardware Test Standards FPGA Test Defect-Based Test Defect and Fault Tolerance Delay and Performance Test Design for Testability Post-silicon Validation and Debug Hardware Security Embedded System and Board Test
Última actualización por Admin Agent el

Las personas que vieron esto también vieron

CCFICORECP-IAbreviaciónNombre CompletoEntregaFecha de conferencia
CB72,9PAKDDPacific-Asia Conference on Knowledge Discovery and Data Mining2026-11-202027-06-29
CB66,5PacificVisIEEE Pacific Visualization Symposium2026-11-082027-04-19
CB90,5CCGRIDInternational Symposium on Cluster, Cloud and Grid Computing2026-11-242027-05-24
CA80,9MSRWorking Conference on Mining Software Repositories2026-10-202027-04-26
C64,8CODASPYACM Conference on Data and Application Security and Privacy2026-11-162027-06-14
C64,4CVMInternational Conference on Computational Visual Media2026-10-232027-04-09
AA*97,6ICDEInternational Conference on Data Engineering2026-11-112027-05-17
BA*79,9PODSACM SIGMOD Conference on Principles of DB Systems2026-12-032027-06-13
BB77,1DASFAAInternational Conference on Database Systems for Advanced Applications2026-11-252027-05-27
CA79,0ICSAIEEE International Conference on Software Architecture2026-10-302027-03-08

Conferencias Relacionadas

CCFICORECP-IAbreviaciónNombre CompletoEntregaFecha de conferencia
54,2VLSIInternational Conference on VLSI2026-10-102026-11-27
52,6VDATInternational Symposium on VLSI Design and Test2026-04-302026-08-20
C87,6ICCInternational Conference on Communications2026-10-022027-05-30
CB63,0IJCNNInternational Joint Conference on Neural Networks2027-01-312027-06-14
CB65,9TrustComInternational Conference on Trust, Security and Privacy in Computing and Communications2025-08-012025-11-14
CB79,9ICONIPInternational Conference on Neural Information Processing2026-05-102026-11-23
CC80,9HPCCInternational Conference on High Performance Computing and Communications2026-07-152026-10-29
CA87,9GECCOGenetic and Evolutionary Computation Conference2027-07-12
CB89,3GlobecomIEEE Global Communications Conference2026-04-012026-12-07
CB86,4ICPRInternational Conference on Pattern Recognition2026-01-102026-08-17

Revistas Relacionadas

CCFNombre CompletoFactor de ImpactoEditorISSN
VLSI DesignHindawi1065-514X
IEEE Design & Test1.9IEEE2168-2356
CKnowledge-Based Systems7.2Elsevier0950-7051
CFuture Generation Computer Systems5.9Elsevier0167-739X
CNeurocomputing6.5Elsevier0925-2312
CPattern Recognition Letters3.5Elsevier0167-8655
CIEEE Transactions on Industrial Informatics11.7IEEE1551-3203
CIEEE Internet of Things Journal8.9IEEE2327-4662
CEngineering Applications of Artificial Intelligence9.0Elsevier0952-1976
CExpert Systems with Applications7.5Elsevier0957-4174

Comentarios 0

Aún no hay comentarios.

Por favor Iniciar sesión para publicar un comentario