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DTS 2019: IEEE international conference on Design & Test of integrated micro & nano-Systems

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투고 마감일:
2019-02-04 Extended
통보일:
2019-03-12
개최일:
2019-04-28
개최지:
Gammarth, Tunisia
조회: 18520   팔로우: 0   참가: 1

회반 지수 (CP-I)

42.1 / 100
전체 5,682개 중 4,137위 · 상위 73%
근거가 제한적입니다: 이 학회는 CCF / ICORE / QUALIS 어디에도 수록되어 있지 않고 게재율 데이터도 없어, 점수의 대부분이 중립 기준값으로 되돌아갑니다.
학술적 인정 (35%) 데이터 없음 — 중립 기준값 50점으로 계산 —
투고 선별성 (20%) 데이터 없음 — 중립 기준값 50점으로 계산 —
개최 횟수 (20%) 데이터 없음 — 중립 기준값 50점으로 계산 —
커뮤니티 관심도 (10%)
8
공개 자료 충실도 (15%)
25

사용한 입력: 지난 24개월 동안 이 페이지를 연 연구자: 2명

공개 자료에서 빠진 항목: 역대 게재율 (+4.5) · 역대 회차 (+3.0) · 최우수 논문 기록 (+2.3)
주최자는 학회를 인증 신청한 뒤 이 페이지에서 바로 추가할 수 있습니다. 점수는 매일 밤 다시 계산됩니다. 이 점수를 올리는 방법

신뢰도 25% — 점수 중 중립 기준값이 아니라 실제 관측된 데이터에 근거한 비율. 이 점수는 어떻게 계산되나 · 전체 순위 보기 · 알고리즘 버전 1.1 · 산출일 2026-09-17

논문 모집

DTS 2019 (IEEE international conference on Design & Test of integrated micro & nano-Systems) is an academic conference held in Gammarth, Tunisia on 2019-04-28. The paper submission deadline is 2019-02-04 (extended). Acceptance notifications are sent on 2019-03-12.

Systems Design & Technology (SDT) : Analog, digital, mixed, and RF circuits design SoC, MPSoC, NoC, SIP, and NIP design Embedded electronics and System architecture MEMS, NEMS and MOEMS systems design Low-power electronics and systems design Sensory Systems Design Wireless communication systems design Opto-electronic System Design Biomedical Circuit & Systems Bio-engineering & Bio-chip design Linear & Non-Linear Circuits Power electronics and systems design Hardware co-design & FPGA design VLSI systems circuit and design DSPs and multiprocessor systems Embedded systems for Deep Learning Control Systems & Mechatronics Algorithms, methods and tools for modeling, simulation, synthesis and verification of ICs Algorithms, methods and tools for signal processing and image processing Algorithms, methods and tools for information security and cryptography Artificial Intelligence systems Electronic systems for energy harvesting applications GPS based engineering systems Process technologies, CMOS, BiCMOS, GaAs Microwave Systems & Integrated antenna 3D integration design and analysis ICs packaging Systems Testing & Reliability (STR) : Analog, digital, mixed, and RF circuits testing SoC, MPSoC, NoC, SIP, and NIP test On-line Testing and fault Tolerance Defect and Fault Modeling MEMS, NEMS and MOEMS Testing 3D testing Delay testing DFT, BIST and BISR Fault Simulation, ATPG Yield Optimization Memory & FPGA Test and Repair Automotive reliability and test Reliability failures and modeling Electronic System Reliability Test and Security Issues ATE issues Alternatives test strategies Nano Electronic Systems (NES) : Nanostructured / nanoporous Materials and devices Nano-circuits and Nano-architectures Nano-sensors and Actuators Nanorobotics and Nano-manipulation Modeling and Simulation at the Nanoscale Carbon Nanostructures and devices Microfluidics and Nanofluidics Systems 3D printing systems Polymer Nanotechnology Nanoscale Materials Characterization Sensors based on emerging devices Renewable Energy Technologies Smart Grid Measurement of health risk Aerospace and Vehicle Manufacturers VLSI IoT Devices (IoT) : Ultra-low power VLSI design for IoT System on Chip for IoTs IoT Application oriented Technologies IoT communication systems Real-time IoT systems RFID systems IoT Services and Applications IoT nodes architectures Sensors and Actuators for IoT Power and Energy systems design for IoT nodes Connectivity for IoT Computing Platforms for IoT Data Acquisition, Storage and Management for IoT Security and Privacy Enhancing Technologies for IoT devices IoT System Interfaces Reliability of IoT VLSI
최종 수정: Dou Sun ()

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