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DTS 2019: IEEE international conference on Design & Test of integrated micro & nano-Systems

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DTS
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投稿締切日:
2019-02-04 Extended
通知日:
2019-03-12
開催日:
2019-04-28
開催地:
Gammarth, Tunisia
閲覧: 18522   フォロー: 0   参加: 1

会伴インデックス (CP-I)

42.1 / 100
全 5,682 件中 第 4,137 位 · 上位 73%
根拠が限られています:この会議は CCF / ICORE / QUALIS のいずれにも収録されておらず、採択率のデータもないため、スコアの大部分は中立の基準値に戻ります。
学術的評価 (35%) データなし — 中立の基準値 50 点として算入
投稿の選択性 (20%) データなし — 中立の基準値 50 点として算入
開催回数 (20%) データなし — 中立の基準値 50 点として算入
コミュニティの注目度 (10%)
8
公開情報の充実度 (15%)
25

使用した入力: 過去 24 か月にこのページを開いた研究者:2 人

公開情報で不足しているもの: 過去の採択率 (+4.5) · 過去の開催回 (+3.0) · 最優秀論文の記録 (+2.3)
主催者は会議を認証申請したうえで、このページから直接追加できます。スコアは毎晩再計算されます。このスコアを上げるには

信頼度 25% — スコアのうち、中立の基準値ではなく実際に観測されたデータに基づく割合。 このスコアの算出方法 · ランキングを見る · アルゴリズム版 1.1 · 算出日 2026-09-17

論文募集

DTS 2019 (IEEE international conference on Design & Test of integrated micro & nano-Systems) is an academic conference held in Gammarth, Tunisia on 2019-04-28. The paper submission deadline is 2019-02-04 (extended). Acceptance notifications are sent on 2019-03-12.

Systems Design & Technology (SDT) : Analog, digital, mixed, and RF circuits design SoC, MPSoC, NoC, SIP, and NIP design Embedded electronics and System architecture MEMS, NEMS and MOEMS systems design Low-power electronics and systems design Sensory Systems Design Wireless communication systems design Opto-electronic System Design Biomedical Circuit & Systems Bio-engineering & Bio-chip design Linear & Non-Linear Circuits Power electronics and systems design Hardware co-design & FPGA design VLSI systems circuit and design DSPs and multiprocessor systems Embedded systems for Deep Learning Control Systems & Mechatronics Algorithms, methods and tools for modeling, simulation, synthesis and verification of ICs Algorithms, methods and tools for signal processing and image processing Algorithms, methods and tools for information security and cryptography Artificial Intelligence systems Electronic systems for energy harvesting applications GPS based engineering systems Process technologies, CMOS, BiCMOS, GaAs Microwave Systems & Integrated antenna 3D integration design and analysis ICs packaging Systems Testing & Reliability (STR) : Analog, digital, mixed, and RF circuits testing SoC, MPSoC, NoC, SIP, and NIP test On-line Testing and fault Tolerance Defect and Fault Modeling MEMS, NEMS and MOEMS Testing 3D testing Delay testing DFT, BIST and BISR Fault Simulation, ATPG Yield Optimization Memory & FPGA Test and Repair Automotive reliability and test Reliability failures and modeling Electronic System Reliability Test and Security Issues ATE issues Alternatives test strategies Nano Electronic Systems (NES) : Nanostructured / nanoporous Materials and devices Nano-circuits and Nano-architectures Nano-sensors and Actuators Nanorobotics and Nano-manipulation Modeling and Simulation at the Nanoscale Carbon Nanostructures and devices Microfluidics and Nanofluidics Systems 3D printing systems Polymer Nanotechnology Nanoscale Materials Characterization Sensors based on emerging devices Renewable Energy Technologies Smart Grid Measurement of health risk Aerospace and Vehicle Manufacturers VLSI IoT Devices (IoT) : Ultra-low power VLSI design for IoT System on Chip for IoTs IoT Application oriented Technologies IoT communication systems Real-time IoT systems RFID systems IoT Services and Applications IoT nodes architectures Sensors and Actuators for IoT Power and Energy systems design for IoT nodes Connectivity for IoT Computing Platforms for IoT Data Acquisition, Storage and Management for IoT Security and Privacy Enhancing Technologies for IoT devices IoT System Interfaces Reliability of IoT VLSI
最終更新:Dou Sun

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