会议信息

ITC-Asia 2026: International Test Conference in Asia

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截稿日期:
2026-04-25 已截稿
通知日期:
2026-06-21
会议日期:
2026-08-19
会议地点:
Ningbo, China
届数:
CCF: C   浏览: 18259   关注: 9   参加: 0
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ITC-Asia
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会伴指数 (CP-I)

58.1 / 100
全站第 684 名 / 共 5,705 个会议 · 前 12%
学术认可 (35%)
66
投稿选择性 (20%) 无数据 —— 按中性基准 50 分计入 —
会议传承 (20%)
65
社区关注 (10%)
39
资料公开度 (15%)
55

用到的输入: 收录等级:CCF C · 有据可查的届次:10 · 在会伴关注它的研究者:9 人 · 过去 24 个月打开过本页的研究者:8 人

公开资料里还缺: 历年录用率 (+4.5) · 最佳论文记录 (+2.3)
主办方认领本会议后,可直接在这一页补上;分数每晚重算。如何提升这个分数

置信度 80% —— 分数中有多大比例来自实际观测到的数据,而不是中性基准。 这个分数是怎么算出来的 · 查看完整榜单 · 算法版本 1.2 · 算于 2026-10-16

征稿

ITC-Asia 2026 (International Test Conference in Asia) is a CCF C conference held in Ningbo, China on 2026-08-19. The paper submission deadline is 2026-04-25 (extended). Acceptance notifications are sent on 2026-06-21.

Topics of interest include (but are not limited to): - Hardware Oriented Security and Trust - AI Test and Test for AI - Autonomous Testing - Heterogeneous Testing - Hardware Oriented Security and Trust - Reliability and Testing for Emerging/Approximate/Quantum Computing - SiP, Chiplet, 2.5D and 3D IC Test- Design for Testability (DFT) - Built-In Self-Test (BIST) - Analog and Mixed-Signal Test / RF Test- High-Speed I/O Test - Automatic Test Pattern Generation (ATPG) - Fault Modeling and Simulation - System-on-Chip (SoC) Test - Memory Test, Diagnosis, and Repair - Fault Diagnosis and Failure Analysis - Safety and Test for Automotive ICs - Integrated System of Sensors - Test Economics- Yield Analysis and Learning - Board-Level Testing and Diagnosis
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