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ITC-Asia 2026: International Test Conference in Asia

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ITC-Asia
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投稿締切日:
2026-04-25 Extended
通知日:
2026-06-21
開催日:
2026-08-19
開催地:
Ningbo, China
開催回数:
CCF: C   閲覧: 17901   フォロー: 9   参加: 0

会伴インデックス (CP-I)

58.0 / 100
全 5,684 件中 第 677 位 · 上位 12%
学術的評価 (35%)
66
投稿の選択性 (20%) データなし — 中立の基準値 50 点として算入
開催回数 (20%)
65
コミュニティの注目度 (10%)
38
公開情報の充実度 (15%)
55

使用した入力: 収録ランク:CCF C · 確認できる開催回数:10 · 会伴でフォローしている研究者:9 人 · 過去 24 か月にこのページを開いた研究者:7 人

公開情報で不足しているもの: 過去の採択率 (+4.5) · 最優秀論文の記録 (+2.3)
主催者は会議を認証申請したうえで、このページから直接追加できます。スコアは毎晩再計算されます。このスコアを上げるには

信頼度 80% — スコアのうち、中立の基準値ではなく実際に観測されたデータに基づく割合。 このスコアの算出方法 · ランキングを見る · アルゴリズム版 1.1 · 算出日 2026-09-23

論文募集

ITC-Asia 2026 (International Test Conference in Asia) is a CCF C conference held in Ningbo, China on 2026-08-19. The paper submission deadline is 2026-04-25 (extended). Acceptance notifications are sent on 2026-06-21.

Topics of interest include (but are not limited to): - Hardware Oriented Security and Trust - AI Test and Test for AI - Autonomous Testing - Heterogeneous Testing - Hardware Oriented Security and Trust - Reliability and Testing for Emerging/Approximate/Quantum Computing - SiP, Chiplet, 2.5D and 3D IC Test- Design for Testability (DFT) - Built-In Self-Test (BIST) - Analog and Mixed-Signal Test / RF Test- High-Speed I/O Test - Automatic Test Pattern Generation (ATPG) - Fault Modeling and Simulation - System-on-Chip (SoC) Test - Memory Test, Diagnosis, and Repair - Fault Diagnosis and Failure Analysis - Safety and Test for Automotive ICs - Integrated System of Sensors - Test Economics- Yield Analysis and Learning - Board-Level Testing and Diagnosis
最終更新:Admin Agent

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