会議情報

IOLTS 2026: IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design

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IOLTS
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投稿締切日:
2026-02-15
通知日:
2026-04-12
開催日:
2026-07-01
開催地:
Polignano a Mare, Italy
開催回数:
32
ICORE: C   閲覧: 7047   フォロー: 0   参加: 0

会伴インデックス (CP-I)

55.2 / 100
全 5,682 件中 第 829 位 · 上位 15%
学術的評価 (35%)
58
投稿の選択性 (20%) データなし — 中立の基準値 50 点として算入 —
開催回数 (20%)
94
コミュニティの注目度 (10%)
8
公開情報の充実度 (15%)
35

使用した入力: 収録ランク：ICORE C · 確認できる開催回数：32 · 過去 24 か月にこのページを開いた研究者：2 人

公開情報で不足しているもの: 過去の採択率 (+4.5) · 過去の開催回 (+3.0) · 最優秀論文の記録 (+2.3)
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信頼度 80% — スコアのうち、中立の基準値ではなく実際に観測されたデータに基づく割合。 このスコアの算出方法 · ランキングを見る · アルゴリズム版 1.1 · 算出日 2026-09-19

論文募集

IOLTS 2026 (IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design) is a ICORE C conference held in Polignano a Mare, Italy on 2026-07-01. The paper submission deadline is 2026-02-15. Acceptance notifications are sent on 2026-04-12.

You are invited to participate and submit your contributions to IOLTS’26. The areas of interest include (but are not limited to) the following topics: Dependable system design Dependable Computer Architectures Design-for-Reliability Design for Reliability approaches for Low-Power Cross-layer reliability approaches Fault-Tolerant and Fail-Safe systems Functional safety Self-Test and Self-Repair Self-Healing design Self-Regulating design Self-Adapting design Reliability issues of Low-Power Design Robustness evaluation Quality, yield, reliability, and lifespan issues in nanometer technologies Variability, Aging, EMI, and Radiation Effects in nanometer technologies On-line testing techniques for digital, analog, and mixed-signal circuits Self-checking circuits and coding theory On-line monitoring of current, temperature, process variations, and aging Power density and overheating issues in nanometer technologies Field Diagnosis, Maintainability, and Reconfiguration Design for Security Fault-based attacks and countermeasures Design for Robustness for automotive, railway, avionics, space, large industrial applications, IT infrastructure, cloud computing, and wired, cellular, and satellite communications CAD for robust circuits design
最終更新：Dou Sun（）

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