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IOLTS 2026: IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design

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IOLTS
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Día de Entrega:
2026-02-15
Fecha de Notificación:
2026-04-12
Fecha de conferencia:
2026-07-01
Ubicación:
Polignano a Mare, Italy
Ediciones:
32
ICORE: C   Vistas: 7046   Seguidores: 0   Asistentes: 0

Índice Conference Partner (CP-I)

55,2 / 100
Puesto n.º 829 de 5.682 congresos · 15% superior
Reconocimiento académico (35%)
58
Selectividad en la revisión (20%) Sin datos: se puntúa con la línea base neutra de 50
Ediciones celebradas (20%)
94
Atención de la comunidad (10%)
8
Integridad del registro público (15%)
35

Datos utilizados: Categorías: ICORE C · Ediciones documentadas: 32 · Investigadores que abrieron esta página en los últimos 24 meses: 2

Falta en el registro público: Tasas de aceptación históricas (+4,5) · Ediciones anteriores (+3,0) · Premios al mejor artículo (+2,3)
Los organizadores pueden añadirlo desde esta página tras reclamar el congreso; las puntuaciones se recalculan cada noche. Cómo subir esta puntuación

Confianza 80 %: la parte de la puntuación respaldada por datos observados y no por la línea base neutra. Cómo se calcula esta puntuación · Ver la clasificación · Versión del algoritmo 1.1 · Calculado el 2026-09-19

Solicitud de Artículos

IOLTS 2026 (IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design) is a ICORE C conference held in Polignano a Mare, Italy on 2026-07-01. The paper submission deadline is 2026-02-15. Acceptance notifications are sent on 2026-04-12.

You are invited to participate and submit your contributions to IOLTS’26. The areas of interest include (but are not limited to) the following topics: Dependable system design Dependable Computer Architectures Design-for-Reliability Design for Reliability approaches for Low-Power Cross-layer reliability approaches Fault-Tolerant and Fail-Safe systems Functional safety Self-Test and Self-Repair Self-Healing design Self-Regulating design Self-Adapting design Reliability issues of Low-Power Design Robustness evaluation Quality, yield, reliability, and lifespan issues in nanometer technologies Variability, Aging, EMI, and Radiation Effects in nanometer technologies On-line testing techniques for digital, analog, and mixed-signal circuits Self-checking circuits and coding theory On-line monitoring of current, temperature, process variations, and aging Power density and overheating issues in nanometer technologies Field Diagnosis, Maintainability, and Reconfiguration Design for Security Fault-based attacks and countermeasures Design for Robustness for automotive, railway, avionics, space, large industrial applications, IT infrastructure, cloud computing, and wired, cellular, and satellite communications CAD for robust circuits design
Última actualización por Dou Sun el

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