会議情報

ATS 2026: Asian Test Symposium

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投稿締切日:
2026-06-06 締切済み
通知日:
2026-09-14
開催日:
2026-12-01
開催地:
Kaohsiung City, Taiwan
開催回数:
35
CCF: C   閲覧: 35488   フォロー: 18   参加: 1
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ATS
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会伴インデックス (CP-I)

63.0 / 100
全 5,759 件中 第 512 位 · 上位 9%

システム・アーキテクチャ 分野 341 件中 第 86 位

学術的評価 (35%)
66
投稿の選択性 (20%) データなし — 中立の基準値 50 点として算入 —
開催回数 (20%)
96
コミュニティの注目度 (10%)
53
公開情報の充実度 (15%)
35

使用した入力: 収録ランク：CCF C · 確認できる開催回数：35 · 会伴でフォローしている研究者：18 人 · 過去 24 か月にこのページを開いた研究者：27 人

公開情報で不足しているもの: 過去の採択率 (+4.5) · 過去の開催回 (+3.0) · 最優秀論文の記録 (+2.3)
主催者は会議を認証申請したうえで、このページから直接追加できます。スコアは毎晩再計算されます。このスコアを上げるには

信頼度 80% — スコアのうち、中立の基準値ではなく実際に観測されたデータに基づく割合。 このスコアの算出方法 · ランキングを見る · アルゴリズム版 1.2 · 算出日 2026-10-25

論文募集

ATS 2026 (Asian Test Symposium) is a CCF C conference held in Kaohsiung City, Taiwan on 2026-12-01. The paper submission deadline is 2026-06-06. Acceptance notifications are sent on 2026-09-14.

Topics — Original papers on, but not limited to, the following areas are invited: AI test and Test for AI Analog/Mixed-Signal Test ATE Design Automatic Test Pattern Generation (ATPG) Autonomous Testing Board-Level Testing and Diagnosis Boundary Scan Test Built-In Self-Test (BIST) CPU/GPU Test Connectivity Testing Defect-Based Test Delay and Performance Test Dependability and Functional Safety Design Verification, Validation, and Debug Design for Testability (DFT) Diagnosis and Silicon Debug Fault Diagnosis and Failure Analysis Fault Modeling and Simulation Fault Tolerance Hardware Oriented Security and Trust High-Speed I/O Test Heterogeneous Testing Low-Power IC Test Machine Learning in Test Memory Test, Diagnosis, and Repair Multi-/Many-core Processor Test Online Test On-Chip Measurement Power/Thermal/Reliability Issues in Test Reconfigurable System Test Reliability and Testing for Emerging/Approximate/Quantum Computing RF Test Safety and Test for Automotive ICs Self-Repair SiP, Chiplet, 2.5D and 3D IC Test Software Test and Reliability Standards in Test System-on-Chip Test Test Compression Test Economics Test Quality Test Synthesis Test for Biomedical Circuits and Systems Test for MEMS and Microfluidic Systems Test for Nanoscale Devices and Emerging Technologies Test for Reversible and Quantum Circuits Test for Sensors and IoT Yield Analysis, Learning, and Enhancement
最終更新：Dou Sun（）

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