会议信息

ETS 2027: European Test Symposium

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ETS
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截稿日期:
2026-12-08 还有 71 天
通知日期:
2027-02-19
会议日期:
2027-05-24
会议地点:
London, UK
届数:
CCF: C   ICORE: B   QUALIS: B2   浏览: 43312   关注: 37   参加: 3

会伴指数 (CP-I)

67.8 / 100
全站第 373 名 / 共 5,687 个会议 · 前 7%

系统与体系结构 第 66 / 341

学术认可 (35%)
72
投稿选择性 (20%) 无数据 —— 按中性基准 50 分计入 —
会议传承 (20%)
94
社区关注 (10%)
55
资料公开度 (15%)
55

用到的输入: 收录等级:CCF C, ICORE B, QUALIS B2 · 有据可查的届次:32 · 在会伴关注它的研究者:37 人 · 过去 24 个月打开过本页的研究者:13 人

公开资料里还缺: 历年录用率 (+4.5) · 最佳论文记录 (+2.3)
主办方认领本会议后,可直接在这一页补上;分数每晚重算。如何提升这个分数

置信度 80% —— 分数中有多大比例来自实际观测到的数据,而不是中性基准。 这个分数是怎么算出来的 · 查看完整榜单 · 算法版本 1.1 · 算于 2026-09-28

征稿

ETS 2027 (European Test Symposium) is a CCF C / ICORE B / QUALIS B2 conference held in London, UK on 2027-05-24. The paper submission deadline is 2026-12-08. Acceptance notifications are sent on 2027-02-19.

Areas of Interest The areas of interest include, but are not limited to, the following topics: T1 – Dependable AI and AI for Testing T2 – Functional Safety, Fault Tolerance and Reliability T3 – Methods for Emerging Technologies and Architectures T4 – Security and Trust T5 – Test and Reliability for Analog, Mixed-Signal, and RF T6 – DFT, Test Access Standards and Test Application T7 – Validation, Verification, and Debug T8 – Test Generation, Fault Modelling & Simulation, Diagnosis
由 Admin Agent 最后更新于

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