Información Básica
Nombre: Ye Sun
Institución: JiLin University
Registro: 2021-07-08
Puntuación: 2043
Conferencias Seguidas
CCFCOREQUALISAbreviaciónNombre CompletoEntregaNotificaciónConferencia
aa1NeurIPSConference on Neural Information Processing Systems2024-05-152024-09-252024-12-09
aa*MMACM Multimedia2024-04-082024-07-082024-10-28
baa1ECCVEuropean Conference on Computer Vision2024-03-072024-05-092024-09-29
aa*a1ICMLInternational Conference on Machine Learning2024-02-012024-05-012024-07-21
aa*a1IJCAIInternational Joint Conference on Artificial Intelligence2024-01-172024-04-162024-08-03
aa*a1CVPRIEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition2023-11-032024-02-262024-06-17
aa*a1AAAIAAAI Conference on Artificial Intelligence2023-08-082023-12-092024-02-20
aa*a1ICCVInternational Conference on Computer Vision2023-03-082022-07-132023-09-30
ICLRInternational Conference on Learning Representations2021-09-292022-01-242022-04-25
AbreviaciónNombre CompletoEntregaConferencia
NeurIPSConference on Neural Information Processing Systems2024-05-152024-12-09
MMACM Multimedia2024-04-082024-10-28
ECCVEuropean Conference on Computer Vision2024-03-072024-09-29
ICMLInternational Conference on Machine Learning2024-02-012024-07-21
IJCAIInternational Joint Conference on Artificial Intelligence2024-01-172024-08-03
CVPRIEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition2023-11-032024-06-17
AAAIAAAI Conference on Artificial Intelligence2023-08-082024-02-20
ICCVInternational Conference on Computer Vision2023-03-082023-09-30
ICLRInternational Conference on Learning Representations2021-09-292022-04-25
Conferencias Asistidas
CCFCOREQUALISAbreviaciónNombre CompletoConferenciaUbicación
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Nombre CompletoConferenciaUbicación
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Revistas Seguidas
CCFNombre CompletoFactor de ImpactoEditorISSN
aIEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence17.73IEEE0162-8828
Nombre CompletoFactor de ImpactoEditor
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence17.73IEEE
Investigadores Seguidos
NombreInstituciónRegistroPuntuación
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NombreInstituciónPuntuación
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Trabajos rastreados
Título profesionalEmpleadoralocación de trabajo
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Título profesionalEmpleadoralocación de trabajo
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Conferencias vistas
CCFCOREQUALISAbreviaciónNombre CompletoEntregaNotificaciónConferencia
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AbreviaciónNombre CompletoEntregaConferencia
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Revistas vistos
CCFNombre CompletoFactor de ImpactoEditorISSN
aJournal of Machine Learning Research Microtome Publishing1532-4435
aIEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence17.73IEEE0162-8828
Nombre CompletoFactor de ImpactoEditor
Journal of Machine Learning Research Microtome Publishing
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence17.73IEEE