会議情報

AUTOTESTCON 2025: IEEE AUTOTESTCON

会議のウェブサイトを表示するにはログインしてください
無料登録で公式サイトの閲覧、締切のトラッキング、メールリマインダーが利用できます。
締切カウントダウンバッジを埋め込む
AUTOTESTCON
このデータを API で取得
検索とランキング一覧は資格情報なしで利用できます。このページの詳細データには無料の API キーが必要です。詳しくは開発者向けガイドをご覧ください。
投稿締切日:
2025-06-15
通知日:
開催日:
2025-09-15
開催地:
National Harbor, Maryland, USA
閲覧: 8162   フォロー: 2   参加: 0

会伴インデックス (CP-I)

44.6 / 100
全 5,682 件中 第 2,936 位 · 上位 52%
根拠が限られています:この会議は CCF / ICORE / QUALIS のいずれにも収録されておらず、採択率のデータもないため、スコアの大部分は中立の基準値に戻ります。
学術的評価 (35%) データなし — 中立の基準値 50 点として算入
投稿の選択性 (20%) データなし — 中立の基準値 50 点として算入
開催回数 (20%) データなし — 中立の基準値 50 点として算入
コミュニティの注目度 (10%)
19
公開情報の充実度 (15%)
35

使用した入力: 会伴でフォローしている研究者:2 人 · 過去 24 か月にこのページを開いた研究者:2 人

公開情報で不足しているもの: 過去の採択率 (+4.5) · 過去の開催回 (+3.0) · 最優秀論文の記録 (+2.3)
主催者は会議を認証申請したうえで、このページから直接追加できます。スコアは毎晩再計算されます。このスコアを上げるには

信頼度 25% — スコアのうち、中立の基準値ではなく実際に観測されたデータに基づく割合。 このスコアの算出方法 · ランキングを見る · アルゴリズム版 1.1 · 算出日 2026-09-19

論文募集

AUTOTESTCON 2025 (IEEE AUTOTESTCON) is an academic conference held in National Harbor, Maryland, USA on 2025-09-15. The paper submission deadline is 2025-06-15.

AUTOTESTCON is the world’s premier conference that brings together the military/aerospace automatic test industry and government/military acquirers and users to share new technologies, discuss innovative applications, and exhibit products and services. It is sponsored annually by the Institute of Electrical and Electronic Engineers (IEEE). AUTOTESTCON will be held at the Gaylord National Harbor Resort, National Harbor, MD, USA, on August 26-29, 2024. The technical program for AUTOTESTCON 2024 will be determined by the interests of those participants submitting for publication, presenting a technical paper or organizing a technical session. Papers and sessions should cover appropriate topics dealing with increasing DoD systems availability and automatic test technology in particular. KEY TOPICS » Spiral Development and Evolutionary Acquisition » Flexible Sustainment » Interoperability » Design-For-Test/Built-In-Test » Fault Tolerant Systems » Legacy ATE Challenges » Future Logistics Support Concepts » Contractor Logistics Support » Maintenance Repair & Overhaul » Multinational Integrated Support » Commercialization of Military Maintenance » Electronic Warfare Test and Applications » CMMI Application to ATE/TPS Development » DMSMS Approaches » Organizational/Intermediate/Depot Level Maintenance For The Future » Next Generation Test Systems » Test Program Set Development » Prognostics » Test Requirements Definition and Verification » Factory and Development Test » Software Testing and Research » Development in Instrumentation and Measurement
最終更新:Dou Sun

関連会議

CCFICORECP-I略称正式名称投稿締切開催日
AA*92.4SIGIRInternational Conference on Research and Development in Information Retrieval2026-01-152026-07-20
AA*97.7AAAIAAAI Conference on Artificial Intelligence2026-07-212027-02-16
AA*91.2CVPRIEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition2025-11-062026-06-03
BA*89.7ICRAInternational Conference on Robotics and Automation2026-09-152027-05-24
BA*94.1IJCAIInternational Joint Conference on Artificial Intelligence2026-01-312026-08-15
AA*89.3STOCACM Symposium on Theory of Computing2025-11-042026-06-22
C87.3ICCInternational Conference on Communications2026-10-022027-05-30
CB62.6IJCNNInternational Joint Conference on Neural Networks2027-01-312027-06-14
B91.2ICASSPInternational Conference on Acoustics, Speech and Signal Processing2026-09-162027-05-16
BA*79.5PODSACM SIGMOD Conference on Principles of DB Systems2026-12-032027-06-13

関連ジャーナル

CCF正式名称インパクトファクター出版社ISSN
AIEEE Transactions on Multimedia9.7IEEE1520-9210
CKnowledge-Based Systems7.2Elsevier0950-7051
BSoftware & Systems Modeling3.2Springer1619-1366
AIEEE Transactions on Computers3.8IEEE0018-9340
CFuture Generation Computer Systems5.9Elsevier0167-739X
CNeurocomputing6.5Elsevier0925-2312
CPattern Recognition Letters3.9Elsevier0167-8655
BPattern Recognition7.6Elsevier0031-3203
IEEE Access3.6IEEE2169-3536
AIEEE Transactions on Dependable and Secure Computing7.5IEEE1545-5971

コメント 0

まだコメントはありません。

コメントするにはログインしてください