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NSREC 2026: IEEE Nuclear & Space Radiation Effects Conference

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Día de Entrega:
2026-02-06
Fecha de Notificación:
Fecha de conferencia:
2026-07-20
Ubicación:
San Juan, Puerto Rico, USA
Vistas: 4602   Seguidores: 0   Asistentes: 0
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Índice Conference Partner (CP-I)

43,8 / 100
Puesto n.º 3.393 de 5.694 congresos · 60% superior
Evidencia limitada: este congreso no figura en CCF / ICORE / QUALIS y no consta su tasa de aceptación, así que la mayor parte de la puntuación recae en la línea base neutra.
Reconocimiento académico (35%) Sin datos: se puntúa con la línea base neutra de 50 —
Selectividad en la revisión (20%) Sin datos: se puntúa con la línea base neutra de 50 —
Ediciones celebradas (20%) Sin datos: se puntúa con la línea base neutra de 50 —
Atención de la comunidad (10%)
10
Integridad del registro público (15%)
35

Datos utilizados: Investigadores que abrieron esta página en los últimos 24 meses: 3

Falta en el registro público: Tasas de aceptación históricas (+4,5) · Ediciones anteriores (+3,0) · Premios al mejor artículo (+2,3)
Los organizadores pueden añadirlo desde esta página tras reclamar el congreso; las puntuaciones se recalculan cada noche. Cómo subir esta puntuación

Confianza 25 %: la parte de la puntuación respaldada por datos observados y no por la línea base neutra. Cómo se calcula esta puntuación · Ver la clasificación · Versión del algoritmo 1.1 · Calculado el 2026-10-09

Solicitud de Artículos

NSREC 2026 (IEEE Nuclear & Space Radiation Effects Conference) is an academic conference held in San Juan, Puerto Rico, USA on 2026-07-20. The paper submission deadline is 2026-02-06.

We are soliciting papers describing significant new findings in the following or related areas: Basic Mechanisms of Radiation Effects in Electronic Materials and Devices ■ Single-Event Charge Collection Phenomena and Mechanisms ■ Ionizing Radiation Effects ■ Displacement Damage ■ Radiation Transport, Energy Deposition, and Dosimetry ■ Materials and Device Effects ■ Processing Related Radiation Effects Hardness Assurance Covering Piece Parts, Systems, and Testing Approaches ■ New Modeling and Testing Techniques, Guidelines, and Hardness Assurance Methodologies ■ Unique Radiation Exposure Facilities, Test Facility Developments, Novel Instrumentation Methods ■ Dosimetry Radiation Effects on Electronic and Photonic Devices, Circuits, and Systems ■ Single Event Effects, Total Dose, and Displacement Damage ■ MOS, Bipolar, and Advanced Technologies ■ Systems on a Chip, GPUs, FPGAs, Microprocessors, and Neuromorphic Devices ■ Isolation Technologies, such as SOI and SOS ■ Methods for Hardened Design and Manufacturing ■ Modeling and Hardening of Devices and Circuits ■ Cryogenic or High Temperature Effects ■ Novel Device Structures, such as MEMS and Nanotechnologies ■ Emerging Modeling and Experimental Techniques for Hardening Systems Space, Atmospheric, and Terrestrial Radiation Effects ■ Characterization and Modeling of Radiation Environments ■ Space Weather Events and Effects ■ Spacecraft Surface and Internal Charging ■ Predicting and Verifying Soft Error Rates (SER) New Developments of Interest to the Radiation Effects Community Data Workshop The Radiation Effects Data Workshop is a forum for papers on radiation effects data on electronic devices and systems. Workshop papers are intended to provide radiation response data to scientists and engineers who use electronic devices in a radiation environment, and for designers of radiation-hardened systems. Papers describing new simulation or radiation facilities are also welcomed.
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